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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 " V( [3 l/ C- E) ?3 W8 ]. }+ `9 P
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 / y- s$ k. I4 T! c
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
3 y! M* ~* U* H9 ~' V0 ^  U% y% \●課程費用:5,000(含稅) 2 K1 \2 S( x& R
●報名截止日期:100/12/01(四)
* y: S. Z/ Y( W4 U●開班人數:10人以上 (最低開班人數) + g4 G/ c- i/ r; z5 c
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 8 r8 X8 I& f3 J2 J
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
+ o! ]) e# @( _6 [- R2 ^# n# t" A
■課程目標
5 }& g, R# I% b( r, H5 W7 l) C) {3 n8 ]9 ?. z1 U  N
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
, |2 X- q. S6 O- {1 ]
$ c, W; v( p2 e' u% ~9 x4 D■課程大綱
; U& K0 v6 t- p( {* }/ \3 W* S第一天:12/08(四)9:00~16:00
+ S/ [7 j; V2 |& L: G專利檢索入門與檢索規畫
9 {' `3 W' E& L1 l. O7 h/ D免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) " \0 v2 c' B9 {- Z3 i3 J
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
% K" }9 ~" b. O, o5 g" @" l
! ~% l4 e' [5 u8 m$ K2 |6 O第二天:12/09(五) 9:00~16:00 8 p. `+ ^4 d* W& Q" s+ Z" c- s
專利分析可提供之情報 # F( r9 U" o* ]% Z
專利地圖試做範例 3 \4 v! F; a+ G
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定: [; ^" M" }# K4 |, Z3 `3 h
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹9 ?! X! D8 f! J* F  B% F1 b; O4 ~1 T
吳俊逸 博士0 J% M  H" [, j
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
' k, ^' _. v8 I$ h現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
4 U5 @* S7 W$ j% k1 B* ?學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 # M9 `7 v7 c$ Y+ S3 c% X
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士   e6 q) J. s. [' |* j3 n+ o% O3 H! J
2 R% x9 ^  Z: C! G! U  |' X* f
專長與經驗:
5 X" O8 U6 J, w# g& @  s" h/ |( N2 e 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
0 p1 [$ M  Q% q6 ^3 b' Q6 |9 W( p- i 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). - N* h' |) }1 F& f
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
+ `: P' n; Q) T8 |& w/ ]- E) L 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). 8 g+ g' E5 a4 M2 U2 b
2 O; _- l" A- C2 w. p; g
經歷: 6 p# K1 ^1 Z8 Y" q4 E5 [5 k

! M- @: w& c) @( m5 _, B9 t1 f5 z" N; }工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 # B& z' F+ u( C4 Q0 [3 I
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
7 b' z" ]4 u5 ^$ x1 r# f8 K9 v8 P國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
; t; R. }9 Z  w, S( Y6 M7 M# ~$ F8 X! r( m) d
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
8 B7 c1 b) H+ _% `9 `( \: i. [" F4 Y8 T0 J1 P
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。- c: l; B# {/ O# t& Q; V1 b
2 D2 _4 ~5 V/ H; ^, d' q- s- {& R
訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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