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[問題求助] 請問latchup的正確講法

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1#
發表於 2008-3-19 23:59:01 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1<VE1=VDD所以第一及的BJT導通,所以產生射極電流,然後產生集極電流,集極電流流到Rsub(大電阻),所以端電壓升高也就是第二級的base端,所以第二級的bjt導通,所以產生第二級的Ic電流,所以IB1的電流變大,導致IE1也變大,如此一直循環導致電流越來越大,把晶片燒毀 不知道這樣說對不對,但書上說是VDD跟GND短路是捨麼意思?不是只是因為電流太大的緣故嗎?
5 G7 v0 W& C- X) }# M1 i請知道的大大回答我 謝謝
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2#
發表於 2008-3-20 08:22:59 | 只看該作者
hi~
* \! M; N7 @$ d8 Z/ e. R電流太大,形同短路! T+ w* G9 X$ q" W
所以直接說VDD與GND SHORT
3#
發表於 2008-3-20 08:28:29 | 只看該作者
我對這問題的理解如下:$ K8 u, C; h! P, \

2 F* t" E) o1 N9 g- ?) r1.
' A, x1 b! q; Y  ?CMOS製程  我們做出來的電路  如果正常工作  電流應該是會在 substrate 基底的表面流動...... b( J/ @( J/ [. p1 D6 h+ i9 l/ O
比方一個  反相器  如果正常工作時  不是PMOS開 NMOS關   就是NMOS開  PMOS關7 J: _7 {! ~; p% V* G# o
如果哪天   NMOS PMOS 都開,  那這個反相器 就無法正常工作了  (已經沒有反相的效果) 6 k! @5 N. P/ u
輸出  OUT  那一點  PMOS NMOS的電流在 Fighting.  此時  電流正是從 VDD流到 VSS去...6 {& \- u6 V- i4 B) w
% M: P6 ?, [. b( g7 |  D8 w
2.  我原本預期電流只會在基底的表面流動.
( @/ z) b* H4 d* G     但只要LATCH-UP現象一發生  電流卻會在  基底  底下 由 VDD 流到 VSS.... (正常電流流動在1F, 此時LATCH-UP, 電流是在B2或B3跑)
. }9 o2 B& J! g+ K+ z! O; n+ c     (這是我不想要發生的效應,只要一發生所有邏輯電路都不能正常工作了...)
& \- _" q: ?% y/ L' R- ]) I     其他就麻煩您自己看教科書   SCR電路  等效於  CMOS 剖面圖的 相關說明, Latch-up是個不可逆的效應  只要發生 Chip就會死得不明不白...
6 T, ?8 T) g+ f     教科書上通常會寫  降低Rwell電阻或是降低寄生BJT Beta去壓制 Latch-up效應, 5 J4 r+ O) U. }5 C  }' p7 u
     Layout上常見的作法就是每隔一段距離就要打 contact上去
8 E3 [4 n' h# \3 R9 L      主旨就是在降低 Rwell電阻.
  K! y; t9 r4 j0 U" B; x- J2 X     不然就是要圍 Guard ring或 Double guard ring, 其中一個功用是 讓 SCR等效電路不要出現,自然就不會有 Latch-up的危險.
* g6 G% T) J* F0 }
- O8 k4 l9 m) b" e5 I) E' [4 n如果這些內容有什麼遺漏或有誤的地方,也歡迎大家多補充.; S& }& X2 f3 X$ [1 R
1 k) T: D" [1 ^6 A
[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-3-20 08:37 AM 編輯 ]
4#
發表於 2008-3-20 10:07:04 | 只看該作者
請問一下什麼是SCR呢?
' @+ I; k$ F5 C: `" `8 J**因為要防latch up 就高壓與低壓隔開.ESD的PMOS 與NMOS隔開.
5#
發表於 2008-3-20 13:09:59 | 只看該作者
SCR:矽控整流子' P* N9 [! |4 o6 _( J# O
其實就像BJT,只是它用來做開關而已0 s8 ~6 j  z( J4 v7 _/ X, g
但其結構是為PNPN,啟動後就永久開啟,需OPEN才會停止7 j5 B! g" p! H
典型的SCR開啟時間是1us左右,關閉時間約5~30us
6#
發表於 2008-3-21 12:00:58 | 只看該作者
这几天老听到说片子LATCH-UP了,但是我从书上看到的,这种现象只在PMOS NMOS之间容易发生,若单种MOS管在一个地方的话就不会发生,是吗?对于这个问题我一直不是很理解,请各位指教指教~
7#
發表於 2008-3-25 10:23:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

Thanks for your answer.
+ a( d+ {& C1 Q/ E) {. C" N/ @Thanks for your answer.3 r& K8 S# L+ R
Thanks for your answer.
8#
發表於 2008-3-27 22:45:07 | 只看該作者

回復 6# 的帖子

我的理解是 如果 PMOS 與NMOS 距離夠遠  中間又有 Guard ring 圍住的話- w( B* W! [# Z7 A# R
那麼substrate底下所構成的等效電路 就不是  SCR電路
6 }$ D1 o4 n0 h# ~: G' p; C& Q' I而是單獨的 PMOS  或 單獨的NMOS
9#
發表於 2008-3-30 20:43:13 | 只看該作者
接樓上:& u/ e- m5 G# f7 Q/ x6 u
其實我也一直在想,經常說的latch-up都是PMOS和NMOS之間的,但是好像聽説異電位的NWell之間 更容易 發生。
3 R. ?# w$ s% M4 P還有一個問題是,如果NMOS的一個端接的是VDD要注意什麽,是不是要注意ERC會引起擊穿還是什麽啊?
10#
發表於 2008-5-21 13:16:12 | 只看該作者
原帖由 tommy01 於 2008-3-19 11:59 PM 發表 ( d3 T% a( j: @! h- m2 I; k
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1
# e; C2 Z. h, H  m9 a! [" M
: i; U. d+ z! @7 ^' G% E$ ^+ M7 m4 Q
0 ]1 v" L" l, Y/ ^1 s
latch up一但發生,最後的結果不是gate被打穿就是juntion punch through或是metal燒毀。9 H7 d  s  F- C- m  s) A7 \# m
除了最後一項原因,其他會導致vdd gnd short所以書上講的也沒錯。
1 q  w% d) T5 \6 D' O只是他只講出結果而已。
11#
發表於 2010-12-9 21:25:07 | 只看該作者
蟹蟹大大分享
& m$ i6 M- `+ B; @. ]受益良多
12#
發表於 2017-2-9 16:24:02 | 只看該作者
謝謝講解4 [" ?  o) y5 O/ o/ T2 x7 ]
早一點看到就不會懊惱就麼久了
13#
發表於 2021-3-16 12:57:09 | 只看該作者
謝謝大大無私分享8 e- T# T% x/ W  ]) G
受益良多感恩大德
14#
發表於 2021-6-3 23:37:55 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
1 r0 k9 t! T  J* j受益良多感恩大德
15#
發表於 2021-6-28 10:13:34 | 只看該作者
CMOS剖面圖畫出來,寄生BJT跟R標示出來,解釋一下寄生電路的動作原理
16#
發表於 2021-8-23 17:03:49 | 只看該作者
感謝大大講解
% x$ H& D' h! Y0 @7 u/ }非常謝謝
17#
發表於 2021-8-25 09:19:58 | 只看該作者

5 g) \. u+ `: [Thanks for your answer.
# e! w5 O2 F( nThanks for your answer.
1 t9 q0 X, P( Y. WThanks for your answer.
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