Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 6517|回復: 8
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

  [複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2008-10-13 22:35:36 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!0 M, O4 M3 {' {1 o% t
        活動內容:
5 X9 _  z9 X+ D6 ^' c8 ^活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三). l  q$ P2 X0 o+ o) z: i7 q5 Q
時    間        (一) 08:30-16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
  W2 d, W+ }7 n5 z/ l! ?! f(二) 09:00-16:00: 訓練課程
* e6 x7 B: T8 f6 a(三) 09:00-17:00: 訓練課程及綜合座談
7 Z1 ?& L& B% K6 s" {地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)(名額100人)
+ [1 I) W7 W3 ~& j         截止日期:即日起,額滿為止,名額有限,敬請儘速報名,以免向隅(名額100人)
% w0 d: ~0 V, w& u5 H; J9 f         報名方式:(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
4 v! {# O5 K( e(2) 傳真至(04)3507-2117
; e0 C1 {  V" J3 J         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
( P4 q- f5 p" y8 j. Q         本活動完全免費(並提供上課講義),敬備午餐及茶點;歡迎踴躍報名參加。5 o4 Q0 E3 ?9 V# i( z6 {4 c
********************************************************************
- N+ K- o% s9 s7 O7 s( ~( ~主辦單位:經濟部標準檢驗局
6 s5 B& w* a7 F2 r3 ~5 D$ p1 [5 o承辦單位:逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心  {5 @0 b- Z0 d$ G" Z' Y
洽詢專線:(04)2451-7250轉3882 粘碧純小姐
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂2 踩 分享分享
9#
發表於 2015-5-10 12:20:20 | 只看該作者
很好的资料,谢谢楼主的分享!
8#
發表於 2015-2-12 16:05:45 | 只看該作者
听过林老师讲的课,受益匪浅!要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
7#
發表於 2014-12-25 10:53:59 | 只看該作者
希望能夠再開課一次   ..............
6#
發表於 2008-10-21 17:26:14 | 只看該作者
硬體測試技術中,電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼?
- c9 N( s. q- E7 Y, N
6 L  J) p1 k8 j3 t, t, h6 j1. 上升時間和信號完整性
0 B" [( f0 V9 @% R: {2. 傳輸線的種類3 E7 p: U$ w; Z: x8 z- @* J+ E
3. 反射產生原因1 _9 z" A) L( L$ m
4. 如何消除反射. x$ A% E0 R2 H" z* |
5. 串擾產生原因' n2 K& z. [/ ]: G- o# Y# L! i, u
6. 如何消除串擾
  I' F9 B/ p- Q  V. \! d: f) I7. 電源/地噪音的種類  ]) V4 {% w7 Y8 e6 H
8. 電源/地噪音的副作用
& j! B7 m7 y, }8 H# v; u9. 如何消除電源/地噪音+ U1 r: o- \1 n0 S2 m4 B
10. 電源/地模型
5#
發表於 2008-10-14 09:56:02 | 只看該作者
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
6 l. ^; T9 l7 O4 C9 N給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
9 s" L  W) [* S0 Y
* n7 ]" |( N1 p- `0 O, ^9 E9 V/ Z至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
" ]3 [2 A/ z, o3 B9 z* L$ W. [

' E) r' A/ |3 @/ ~" X) T好方法
! T% \# f, B9 B$ C' [8 d* X4 x8 @6 P+ Q6 M. X
可是還是要有人在錄才行
4#
發表於 2008-10-14 09:45:41 | 只看該作者

回復 3# 的帖子

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......5 M" S1 ^3 P5 ~( @0 U% V

  e9 `) K6 j6 M! o& L至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
3#
發表於 2008-10-14 09:42:44 | 只看該作者
幫推~很想參加,可惜人在桃園
# v+ g/ M. j& G& B3 e' T* h回來又要寫一堆報告
2#
 樓主| 發表於 2008-10-13 22:36:43 | 只看該作者
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
  y0 q+ o" U1 Y0 y! }- ~97年11月03日 (星期一)- r. x$ w9 M) g. l
時     間        活 動 內 容* D. q! T" J6 s' B% p
8:30-9:00        報      到. M' N! a; |: W2 ~9 ]8 s
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
3 g% u: r+ W' j9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展& V3 i2 r( |" V1 ?$ I/ ^, Q1 j" T
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授# e+ q5 ^! E# L: W( G2 z2 `$ Y5 ]% e
內容包含:
5 x6 C9 U3 X5 V% p9 o7 z( H1. EMC問題趨勢的發生與分析: [: R5 Z+ ?& p: H
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析9 ?4 w* I1 W) B9 v& A: z
- Platform noise effect7 M" L4 S* ?( b* d( O
- Noise measurement procedure
. y7 Q( `: a0 P0 X1 h7 ?, W4 e3. EMC之原理分析與設計技術簡介
% z' G, w" v, Y- z! u% y8 s. M  L- Filtering
1 v4 T, [, Z' r, Z: W- Shielding
# n( Y4 P" x7 w+ u- s9 _; W- PCB Layout
2 I4 O+ T5 y: j. ?/ i+ f, N$ F4. 電源完整性(PI)之分析與設計0 |2 V1 t& S: |; ?- y
- Power/Ground plane layer impedance measurement5 v4 P" m9 D. L
- Power Distribution System (PDS) Design
& }. J; Y6 ]1 x' {5. 信號完整性(SI) 之分析與設計1 Q5 F% G, Q6 @9 x& P
- Measurements for Signal Integrity
5 |/ @# |7 V# r: V- Multi-Gigabit transmission over backplane systems" v( |. E& w: Z) C. g$ w. d/ A
! G5 ?8 ?" [( X9 v  Y

' V5 g* u. m$ a8 g2 }. C97年11月04日 (星期二)
" B+ Z. g& ?- S- j% L! E7 H' l# Z' u* o
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
: O1 H( L2 q1 V7 J% w# t  A' K4 D內容包含:2 S- @! R9 Z" y& c% ?; H$ w7 C5 B
電磁模擬範例分析* M% ~9 K% n9 R) W! G
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation$ l+ U' e8 M$ d8 V& J& t
•        WBFC Modeling and Simulation
/ M5 m) Q  @' ?5 j% A•        MP Modeling and Simulation
) i& }9 q( V! ~5 f) v/ P1 {•        TEM Cell Modeling and Simulation
2 r$ c$ ^3 {. b. T4 }- General Noise Characteristics$ r7 g4 T2 S+ A
- Power Noise Study
; B$ R; a, p7 v- Signal Noise and SI Study
8 V4 [8 D" v1 c& [6 M, u1 X�        Slit on Reference Plane$ {  V, z! {& h8 U/ q, Z
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane4 K5 k- @  ?; L5 R
�        Reference Plane change
4 T$ g0 ?* B  a4 X& ?. j. v! o�        Trace near the Card Edge
# P% U9 l" A" `/ m4 _1 M- E4 a7. Trend of EMC issues on chip-level3 }& G  Z5 x5 N
8. EMC design trend for chip-level
% Y0 j5 [& ^6 b$ j; w2 J97年11月05日 (星期三)
' q& h" b! p/ t6 s5 A- Q. f/ ~9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授+ I# }+ C3 N2 M, R# U
內容包含:
2 c" `# s1 r# u& i9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
7 @2 H/ c4 O6 p% t1 }8 {10. IBIS modeling vs. Spice modeling ' f* v! ^9 Y% e- c2 q% S
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
: J2 Z, M# B$ Y12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring! ]0 Q; q: f. |$ ]& N! S' C
•        New Challenges in Modeling and Measurements
8 s; ~- G" _- Z•        Loss Mechanisms and Their Significance
! ]% P0 ^  T2 V•        Limitations of Present Methodologies
( a6 J, [/ w. T; P. b$ \) Z8 Z•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
0 [% I' N+ g, c9 t•        Production-level Process Integrity Monitoring
9 H5 H0 |6 e( C2 Z  \3 M' L0 N7 o2 _ 13. 綜合座談

本帖子中包含更多資源

您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員

x
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-2 11:00 PM , Processed in 0.111007 second(s), 19 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表