逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
5 f0 i3 [+ h4 I, \         活動內容：
! J2 w+ v* [( n3 D( F; v活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
9 j! E8 V5 h7 Z' M1 n" A6 p時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
% Z1 y! W6 O& ^(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
% E! O% C6 N+ P8 a: N/ u, w3 {2 W5 m         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
8 X# F, r, U7 Y+ j' m/ d- n5 S8 j2 F         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
- E! u6 q7 r) z3 D* ^+ }% p2 ^' F         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
( |, y3 q# d- l********************************************************************
# u; v0 ]1 N& ^' e主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
6 J7 Q" {* Z6 ~& R7 E( M洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
1 b# ~& W! w( h4 @4 t; d, }97年11月03日 (星期一)
1 q" o9 p6 C2 }1 L6 |時     間        活 動 內 容
) o! M6 G& c; {, V4 e1 \8:30-9:00        報      到
5 V+ ~9 z: V, [1 q9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
# [3 I% b6 K5 I9 p9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
( _& b) P; A8 B1 X1 C主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
9 {) L& n+ E. C1 I1. EMC問題趨勢的發生與分析
! y% [# P+ @3 _: W+ G7 B2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
$ k' ]! }; V$ U' @- Shielding
' l. H, H8 w& s0 @# j- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
' E8 [- E5 _% ^' {8 Z4 b! \9 v5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
' S6 r8 n0 |. a5 H, J- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
4 ]& [) c1 z* D5 E: c: Q- v3 W

97年11月04日 (星期二)

0 m- Y7 D8 x# E) }0 K  H9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
4 K: G. e, B0 I' V- m: j內容包含:
電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
% L5 R% y& b* N2 }7 |2 a: Y6 B4 v•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
: Z9 ]6 m) e% |% V% B& [8 M- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
/ v, G  Z, Y, y/ Q0 r, ^/ |�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
' l, ?: q6 \: Z�        Trace near the Card Edge
& j9 y& K% y6 d% R7. Trend of EMC issues on chip-level
# K5 o+ f4 b, t! }' u, J( A; b7 `8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
, m& w; @' r* @+ H# P4 R9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
) y: }' M8 e: I# d+ P4 @. p內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
. t  z" r- {* ]10. IBIS modeling vs. Spice modeling
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
0 {- [& w+ k( ]8 I1 {! x, q) z/ ~# m12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
$ b" t  I5 Z. v' R•        New Challenges in Modeling and Measurements
9 ^5 q# V' u1 T* z: s+ C$ @9 }4 {•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
  e2 T- x; [4 c6 F' r+ y給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

' E4 U- z" q- w; Z+ V至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

* Z: v8 O; t* |3 c2 E
好方法

8 S( A9 q2 C) ^* D  w可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
' U3 J: c2 l+ }9 S
. [5 b( E& M; v# h" \1． 上升時間和信號完整性
: v) Y* o3 ?9 E+ x5 O( \2． 傳輸線的種類
& Y) b4 X' A+ a+ U3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
. L9 m. Y8 |1 q, n9 J7． 電源/地噪音的種類
3 {) s4 w1 O/ S) O/ q& P7 H) Y8． 電源/地噪音的副作用
9 _! x% d# H7 T) G1 g( W9． 如何消除電源/地噪音
3 H; ?: }) F; c+ H! `8 D4 F9 r10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！