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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,# {1 P7 W7 c" X1 u+ v+ E7 P
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能
3 ]$ E3 d6 B- p力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,% n0 L8 `5 o+ S6 S
乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
2 T i6 v9 d# M7 Z% k: m+ J2 A1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.& C: A% Y: z4 ]* R8 V/ x u
2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了./ Z: }' g' o I/ ~% e
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.2 ^$ v" K' d' S5 U
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換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
; m3 C5 H5 S5 K但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及% y, c( d. w1 j; l
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.
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另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
4 |4 @1 o4 @0 X/ B及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
/ [( P) G. e9 H7 U也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少# I. {, x2 e! P# v( v' X1 l
3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".. k) U) O" {( j* ^* R
5 w. C; N ~' R愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
. {; |3 N8 t; T彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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