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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
7 I$ b4 a$ O7 f愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能+ x' i. l0 {$ y7 n
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
$ r; X1 h% Q+ f* F乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
% [6 h0 \ x; j8 T6 @! t: X1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.+ N5 _( ?3 s0 O6 D9 x. |/ Q
2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.0 C5 Q) Q2 p& W9 H) O: Q
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.' H6 B K2 C% d+ ^
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換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
5 T3 y W) {5 y( N1 s8 O但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及
# o! [% M1 r5 k( F; p3 Y高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略., [6 {1 z) P& E$ P9 ~% X: D7 r
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另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
1 L8 n; Z" D- n- t! o, q! X及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
- e1 ~; j% D: _; [, n也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
- \5 Y, ~ X! E1 w. e3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".) g/ j1 E* n% l' n! v) Y- T
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愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶, ! l! }) S/ H: N. F7 S! g
彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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