愛德萬提供最佳SoC測試解決方案

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T2000彈性的模組化設計　客戶可依特定需求調整配置
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為了提供客戶在不同IC領域也能使用最尖端的測試技術，半導體測試設備商愛德萬測試近年來積極投入系統晶片（SoC）自動測試設備（ATE）市場，並以高彈性、模組化設計的T2000系列（如圖）為代表機種，全力滿足客戶在3C應用產品上的測試需求。

T2000除了在高階MPU、繪圖晶片及微處理器等均有絕佳的適應性，近日更推出一套可大幅降低SoC測試成本的最新解決方案，符合半導體測試聯盟（Semiconductor Test Consortium；STC）之OPENSTAR標準。新推出的T2000 LS可因應目前消費性電子產品SoC元件測試的高性能與低成本需求，提供客戶更有效率的測試方案
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& x) [" j1 Y( A+ ~) f+ ^7 ?愛德萬表示，T2000 LS將於2007年下半年上市，可同時支援高速數位測試和類比測試，並列同測能力是之前的2倍，能幫助降低測試成本達50％以上。此外，LS機台主架構採用了節省空間的設計，減少占地面積。測試模組之間還可以方便地進行互換，匹配相容的待測元件，使客戶能依照不同的測試需求，達到最理想的配置，並節省測試成本。
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* ^0 J6 H/ ^4 v! y針對高性能SoC消費電子元件的測試，愛德萬並提供800Mbit/s和500Mbit/s的數位模組，兩者均擁有128個I/O，是之前模組的4倍。由於採用了高密度集成技術，I/O數的增加將有助於客戶降低成本，而且兩種模組均具有記憶體測試功能，可以測試具有嵌入式記憶體的SoC元件。至於類比測試模組，則包括支援音頻測試的AAWGD，以及能夠提供數模及模數轉換器線性度之低成本、高精準度測試的PMU32，這兩種新模組使類比測試的表現更上層樓。

另外，愛德萬並於2006年年底推出支援高產能測試的SoC Handler－M4841，並計畫2007年下半年後開始出貨，它可支援包括晶片級封裝（CSP）、球柵陣列（BGA）及四方扁平封裝（QFP）等封裝，其高產能與並列同測技術，亦可幫助客戶降低測試成本。

$ m6 H. Y! F, E; U" r* VM4841最大並列同測能力達到每次16個元件，為之前的2倍；每小時能夠處理18,500個器件，測試時間少於3秒，可提供舊款機台3倍的產能。M4841可說是目前市場上能力最強的Handler，由於其支援高產能的需求，非常適用於消費電子和汽車電子元件的大規模生產，幫助客戶降低測試成本的效益非常顯著。此外，M4841還具有先進的溫度穩定能力，能將元件冷卻最低至零下40度，加熱最高到125度，這個功能尤其適合汽車和航空電子設備的溫度測試。
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半導體測試機台設備商愛德萬測試，近年來積極投入SoC ATE市場，推出高彈性、模組化設計的T2000系列代表機種，全力滿足客戶在3C應用產品上的測試需求。
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T2000在高階MPU、繪圖晶片及微處理器等均有絕佳的適應性，近日更以半導體測試聯盟(STC)之OPENSTAR標準的T2000測試平台為基礎，推出T2000 LS解決方案，可因應目前消費性電子產品SoC元件測試的high performance ＆ low-cost需求，大幅提升測試效率。
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愛德萬表示，這套將於今年下半年上市的新模組，可同時支援高速數位測試和類比測試，且並列同測能力是之前的兩倍，能幫助降低測試成本達五○％以上。此外LS mainframe採用節省空間的設計，減少占地面積，測試模組之間還可以方便地進行互換，匹配相容的待測元件，使客戶能依照不同的測試需求來達到最理想的配置，並節省測試成本。

愛德萬現在還為高性能SoC消費電子元件的測試提供800Mbit/s和5 00Mbit/s的數位模組，兩者均擁有128個I/O，是之前模組的四倍。由於採用高密度集成技術，I/O數的增加有助於客戶降低成本。而且兩種模組均具有記憶體測試功能，可以測試具有嵌入式記憶體的SoC元件。
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SoC Handler-M4841，於去年底在日本推出，最大並列同測能力達每次16個元件，為之前的兩倍；每小時能處理18500個器件，測試時間少於三秒，可提供舊款機台三倍的產能。M4841可說是目前市場上能力最強的Handler，由於其支援高產能的需求，適用於消費電子和汽車電子元件的大規模生產，幫助客戶降低測試成本效益非常顯著。此外，M4841具先進的溫度穩定能力，能將元件冷卻最低至零下40度，加熱最高到125度，這個功能尤其適合汽車和航空電子設備的溫度測試。

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但不知 DennyT 大大此一「建議」是否也接近於 chip123 「即時的回饋」的作法？:o
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問題： 請開放針對新聞主題連結發言之功能 發表時間： 2007/7/3 下午 12:15
$ `# h% j' ]$ m7 [提問者： DennyT ( S* S: [, d0 A5 |! b* z等級： 鐘點工讀生 積分： 105分 0 [4 |( f3 Z5 S1 P		既然是新聞性質的網站, 讓論壇用戶能針對各條新聞直接發言, 並將用戶評論直接顯示提要於該新聞頁面中(如 電子時報 Digitimes Taiwan), 可增加論壇的熱度, 並讓news editor or reporter有管道得知讀者即時的回饋, 成為後續報導方向的依據.

半導體測試設備商愛德萬測試(Advantest)再次於今年度榮獲市場調查機構VLSI Research的全球TOP 10最佳供應商。這已是連續十九年來，愛德萬測試持續獲得在最佳品質與服務上的肯定。
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市場調查機構VLSI Research根據直接用戶調查結果統計顯示，愛德萬測試Advantest「測試機台」項目排名第三，在「料件處理設備」項目得到第四。在Top 10最佳的測試器材供應商之中，愛德萬測試在「生產品質和產品性能」中贏得了最高的評價，並且在「料件處理設備」項目中的處理支援和備用支援部份，獲得了最高分。愛德萬測試同時也名列了前三大半導體製造設備供應商，在全球前十五大晶片製造設備供應商的激烈競爭中脫穎而出。
: h% l1 g: R% [5 E2 B- ^7 }
: m6 I9 g4 x4 E. ^9 P* u% G4 R愛德萬測試積極以滿足各種不同的顧客需求為使命，為達成最高客戶滿意度，將致力於提供高性能和高品質的測試方案，包括試測機台、Handler設備、裝置介面、軟體和客服支援一個Total Solution。
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愛德萬測試是世界著名的半導體自動測試設備供應商，提供SoC、 Memory、mixed signal devices和LCD Driver等IC測試機台及Handl er，擁有最先進的測試技術及完整解決方案。一九五四年在東京成立，致力於發展全球半導體產業最尖端的測試科技，並在歐美成立分公司。台灣分公司成立一九八九年，目前為國內最大之IC產品測試設備供應商，在北、中、南各設服務據點，為客戶提供迅捷的技術支援。

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請多多來給chip123大大的建議吧！雖然我們新聞的廣度、深度都不夠...但至少還有點小小的基礎吧?

是誰說過：論壇論壇，就是大家談論的地方... 雖然探討新聞(市場、產業)可能不是多數會員工程師的愛好...
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0 a8 |1 w& O: r7 |1 z8 D但每一個人自我主觀掌握的技術發展、產品開發，不也都是「存在」在這更大、變動快速的客觀世界之中...

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半導體測試機台設備公司愛德萬測試(Advantest) 近日宣布推出為支援多晶片封裝（MCP）所研發最新的高速、高產量記憶體測試系統T5781。新系統T5781為未來單一封裝中結合多種記憶體，即包含NAND, NOR and SDRAM的MCP 元件，提供可達266Mhz/533Mbps的高速測試。另有T5781ES (Engineering Station)可提供研發單位驗證元件及發展新的測試程式。將測試DDR和Flash功能和性能整合在單一平台下， T5781為將來的在密集型內存產品的應用上，提供了一種快速的一貫製程開發所需的解決方案和高量產測試。
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增加功能的手機和行動設備的應用處理器，促使先進的MCP需求日益增加，其中包括更先進的功能，如高清晰度攝影機和內置的音樂播放器-是驅使記憶體元件的存儲設備及擴充能力、功能和速度發展的主要因素。在行動電話有著更清薄短小、更多功能的趨勢下，使記憶體元件不斷小型化，使得單一封裝(包含多個不同的記憶體MCP元件)被廣為運用。
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以往的MCP測試需要為特定類型的記憶元件來使用特定的測試系統，例如針對部分NAND的內存元件就必須使用專門測試NAND的系統來進行測試，所以分步測試橫跨數個插件使得測試處理過程十分昂貴。除此之外，現在DDR-DRAM頻寬線路流量被納入MCP，對能夠達到運作速度超過了100 Mhz，可測試超高速元件的MCP和充分單片Flash和DRAM的功能測試系統需求趨旺，因此愛德萬開發T5781和T5781ES以幫助客戶降低測試成本，並滿足其在技術上的需求。

# Z9 O: {% P. A7 Q3 X, U, {特色與優點

愛德萬的新T5781記憶測驗系統具有以下功能：

6 C* t2 y+ G" c0 U0 Z' ^0 i◎測試速度可達266Mhz/533Mbps （在模式） ，其對高速性能的MCP測試上在全球名列前茅，在業界是非常適合測試下一代的。
0 F: Y4 j" s* a2 B2 T◎新功能為在單一製程中能有效率的測試多種類的。愛德萬設計了測試一個中所有類型記憶體的單一測試系統。
◎Tester-per-site的架構對測試是非常有效率的，每個測試site包括獨立的電源和功能，每顆元件能夠被獨立的控制和測試。經由Tester-per-site的架構可使測試時間顯著減少。
◎是設計用來提供研發單位驗證元件及發展新的測試程式的較小版工程用平台，其所有的功能和性能品質與T5781 相同。這兩個系統在整個測試和原型製作過程中，從產品開發到高容量的生產，減少周轉時間，同時提供了一個非常寶貴的資源。

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半導體測試設備商愛德萬測試日前在日本半導體設備暨材料展(Semicon Japan)中推出新SoC測試解決方案，此一為降低SoC元件測試成本而設計的小型測試設備，主要用於電子消費性產品和汽車電子產品。

這項全新的小型測試解決方案，是由愛德萬測試位於聖克拉拉研發中心所研發，包含新開發的T2000 GS的主機測試系統和新增對電子測試的250 MDMA模組，使SoC元件可在OPENSTAR T2000測試平台中進行並列測試。
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" J% y) T: h. k: i4 Z在消費性電子產品、音響和汽車等領域裡，半導體供應商不斷推陳出新，以提高消費者的舒適、安全與創新功能，來推動擴大商品電腦化的趨勢。電子產品中的SoC元件需求，在市場中穩定成長，預估在上海市場，其未來的成長率約以7%的速度逐年增加至2012年。市場上高性能、高價位的產品不斷推出，但一般用途的SoC應用也在不斷增加供應量，這種混合市場需求使設備製造商一直在尋求高效率、低成本的測試解決方案，能夠解決生產要求的高結構、低容量和一般用途的SoC元件。

: o3 Q* F# v/ L愛德萬致力於預先洞悉其客戶的需求，自2003年以來，以T2000測試系統系列，提供廣泛的SoC消費性電子產品測試解決方案，而此新T2000小型測試解決方案，就是回應此需求的最好答案。
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. R# I9 r$ P6 ?2 A4 F; @* w6 l小型的T2000 GS主機擁有一個13插槽測試頭，主機體比它的前身小一半的佔地面積，節省空間並提高使用價值。其空調冷卻設計大大提高了業務上的靈活性，允許更多選擇、安裝配置和易於維修，並可與其他已經上市測試模組結合使用，提供了一機多用的廣泛測試解決方案。

愛德萬的高密度封裝技術，提供128個頻道，每單元高測試速度為250Mbps。該模組結合T2000 GS的主機，提供32元件並列測試能力，可極大地降低SoC元件測試成本。250MDMA配備了「直方圖引擎」，可執行模數轉換器數計算及精度分析。這項功能大量縮短在硬件模組中周轉時間所積累的測試數據，從而減少了必須轉移給控制器進行分析的大量信息，而大大降低了分析所需的時間。該250MDMA具有廣泛的功能，靈活地滿足各種測試需求，其中包括一個高電壓輸出驅動器為內置式快閃記憶體，掃描圖形發生器和一個ALPG模式發生器，同時它也支持多時間域運作。
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為了提供客戶在不同IC領域也能使用最尖端的測試技術，半導體測試機台設備商龍頭愛德萬測試近年來積極投入SoC ATE市場，愛德萬測試在SoC機台發展的全球策略，以高彈性、模組化設計的T2000系列為代表機種，全力滿足客戶在3C應用產品上的測試需求。

T2000在高階MPU、繪圖晶片及微處理器等，均有絕佳的適應性，為一可大幅降低SoC測試成本的最佳解決方案。這個方案是以符合半導體測試聯盟(Semiconductor Test Consortium；STC) 之OPENSTAR標準的T2000測試平台為基礎，而新推出的T2000 LS，更可因應目前消費性電子產品SoC元件測試的high performance & low-cost需求，提供客戶更有效率的測試方案。

: @0 C" p0 L6 E6 @. t愛德萬表示，T2000 LS可同時支援高速數位測試和類比測試，且並列同測能力是之前的2倍，能幫助降低測試成本達50%以上。此外LS mainframe採用了節省空間的設計，減少占地面積。測試模組之間還可以方便地進行互換，匹配相容的待測元件，使客戶能依照不同的測試需求來達到最理想的配置，並節省測試成本。
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T2000 LS並為高性能SoC消費電子元件的測試提供800Mbit/s和500Mbit/s的數位模組，兩者均擁有128個I/O，是之前模組的4倍。由於採用了高密度集成技術，I/O數的增加無疑有助於客戶降低成本。而且2種模組均具有記憶體測試功能，可以測試具有嵌入式記憶體的SoC元件。至於類比測試模組則包括支援音頻測試的AAWGD，以及能夠提供數模/模數轉換器線性度的低成本、高精準度測試的PMU32，這2種新模組使類比測試的表現更上層樓。

T2000測試系統符合OPENSTAR Open-Architecture的規格，提供業界中獨一無二的彈性，客戶可以依特定的需求來調配，而不需再為每一條新的生產線投資新的測試機台。
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此外，愛德萬於2007年在台推出支援高測試產能的SoC Handler - M4841，它可支援包括晶片級封裝(CSP)，球柵陣列(BGA)及四方扁平封裝(QFP)等最新封裝技術中的高產能與並列同測技術，同樣也是幫助客戶降低測試成本的好幫手。M4841最大並列同測能力達到每次16個元件，為之前的2倍；每小時能夠處理18,500個器件，測試時間少於3秒，可提供舊款機台3倍的產能。M4841可說是目前市場上能力最強的Handler，由於其支援高產能的需求，正適用於消費電子和汽車電子元件的大規模生產，降低測試成本的效益非常顯著。此外，M4841還具有先進的溫度穩定能力，能將元件冷卻最低至零下40度，加熱最高到125度，這個功能尤其適合汽車和航空電子設備的溫度測試。
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半導體設備商愛德萬測試(Advantest)與東京大學超大規模積體電路設計和教育中心(VLSI Design and Education Center；VDEC)於2007年底成立愛德萬D2T(Design To Test)研究部，以提供學生學習超大規模集成電路的設計技術，擁有一個整合的教育環境下，取得顯著的技術創新。這是自VDEC於1996年成立以來，首次建立了如此得天獨厚的研究部。在新成立的分工同時，VDEC及Advantest已開始共同研究委員會，目的是加快技術研發的領先優勢的超大規模集成電路測試技術是必不可少的，以促進半導體產業的未來的發展。
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0 _9 ^9 ~, P8 \2 d愛德萬測試表示，近年來SoC消費性產品已深深嵌入日常生活中，例如在信息設備和汽車電子等方面，日益增加的需求使這種裝置在性能和可靠性的要求上為變得更加嚴格。對此，半導體的設計教育不僅應鑽研設計工作本身，並該測試設計的成果，以確保穩定的產量生產，減少故障率，這些均已成為重要的考慮因素。

愛德萬D2T研究部的成立，是以培養具備成為未來試驗設計能力專才的學生為目標，提供一個綜合的教育和研究環境，從VLSI設計至進行測試，並支援SoC設計研究工作。除了VDEC現有的教授，海外專業人員將被邀請參與此技術交流的教學計畫。研究部的共同研究活動將促進雙方先進的測試技術，以符合先進的設計技術，並進一步研究高可靠性的超大規模積體電路測試技術。
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1 o8 B; i- E  t3 }8 A愛德萬測試指出，這分方面的產學合作使愛德萬的技術和支援能力，與VEDC的教育技能、研究方法和基礎成果的累積相結合，將有助於培養優秀的半導體技術人才；期望將這方面的貢獻作為一種激勵，以促進發展半導體產業。
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: z3 [) \8 G6 v/ L2 D愛德萬測試是世界著名的半導體自動測試設備供應商，產品線遍及SoC、 Memory、mixed signal devices和LCD Driver等IC測試機台及Handler，提供最先進的測試技術及完整解決方案。愛德萬測試1954年於東京成立，致力於發展全球半導體產業最尖端的測試科技，並在歐美成立分公司。愛德萬測試台灣分公司成立1989年，目前為國內最大之IC產品測試設備供應商，在北、中、南各設服務據點，為客戶提供迅捷的技術支援。愛德萬測試網站：www.advantest.com.tw。

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領先全球的半導體測試設備商愛德萬測試(Advantest)，再度獲得美國量測期刊「Test & Measurement World」舉辦的Best in Test獎項，愛德萬測試高性能的SoC測試組合T2000 LS MF/M4841以其優秀的測試能力，以及它給測試產業的創新與貢獻，榮獲編輯委員評選為2008年最佳測試獎(Best in Test)。

愛德萬是這幾十年來，唯一一家具有能力設計和製造自己的handlers、界面和軟體的自動測試設備公司，獨具使整體測試設備達到最佳化的資格。愛德萬的SoC測試解決方案是獨一無二的，以tester-handler整合，具高度並列同測能力，完整提供全副的高性能測試方案，可一次解決SoC消費類電子產品的測試需求。

此一SoC消費類電子產品的測試解決方案，最大並列同測能力達到每次16個元件，為之前的2倍；每小時能夠處理18,500個器件。T2000的OPENSTAR兼容架構提供極大的可擴展性和靈活性，以及測試系統的專有液體冷卻的設計，可以讓高性能的26個插槽測試頭，可執行各種各樣的測試包括射頻、音頻、基帶和數據轉換。
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而M4841的設計實現了最大的靈活性和高性能。它可處理各式的測試，具有非常高產能和可靠性，並具有專利的創新功能，例如愛德萬的軟觸技術，它使用了一種電氣動空氣壓技術，以避免在接觸時損害極微小的零件。

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愛德萬測試(Advantest)推出最新的LCD驅動IC測試解決方案T6373。T6373為高解晰度LCD驅動IC提供3072 Channel高產量測試，其並列同測能力一次可多達32個devices。

9 r8 d2 |  W2 h9 r0 c0 M在全球大尺寸、高解晰度液晶平面數位電視需求日益增長的帶動下，LCD驅動IC市場也日益擴大。市場報告預測，到2010年，LCD 驅動IC的出貨量將增加約45 ％，但出貨總額預估只會增加7％，這意味著越來越大的價格壓力將降臨在IC製造商身上。
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同時，由於推出更高解晰度和較大的LCD面板，需要更快速的驅動IC與不斷增高的解析度和腳位，使得測試時間和測試成本持續快速上升。在此情況下，大規模的驅動IC業者均積極尋求具成本效益的測試解決方案。
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) M! m+ t/ V( YT6373有助於大幅減少測試成本。跟舊型機台相比，具有多達512 channels的數位測試的圖像信號輸入，和3072 channels於LCD 測試的產出，提供並列同測的功能可一次多達32個devices，使產能增加兩倍。在四個devices現在可以同時進行測試的狀況下，在大型液晶電視中長用的並行測試的684-pin和720-pin驅動IC，可增加兩倍測試產能。
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其所有I/O channels最快到875mbps的高速數位測試能力，T6373 可提供mini-LVDS，ppds和mipi (Mobile Industry Processor Interface)等高速傳輸標準的測試，使所有的LCD驅動IC的功能測試，可在同一台測試機(T6373)上完成。
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! L# f5 y! |; v% s  bT6373在每一個 LCD channel，有一個高精確度數位化儀器裝置，使更高高解析度和pin count ICs的測試，比舊型機台增加了1.5 倍。它適用範圍廣泛的devices，如消費性電子產品8-bit（512 灰階）和10-bit（1024灰階）驅動IC，到新一代領先的12-bit （4096灰階）驅動IC，均提供低成本、高精準度的測試。
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( F9 @6 ~! X" D6 [- ~* R7 @/ K6 i最重要的是，Probe Card/測試程式與上一代的T6372/L共用。由於T6373是以T6372/L測試機所延伸的新技術，更加滿足開發及量產成本效益考量。不僅保留原有軟體環境和共用性，還完全與T6300平台相容，使客戶能夠使用其現有的軟體環境，在T6373 上開發新產品；或者使用T6372現有的測試程式及Probe Card，在T6373上製造量產。
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) J6 S/ G- a) zT6373主要規格為:並列同測能力最大至32 devices（與作業系統同時支援，靈活的同測規劃）；LCD channel達3072 channels (maximum)， per pin digitizer and per pin PMU；參考電壓源（RVS）為±32 V (maximum 160 channels)；IC電源供應（PPS）±40 V (maximum 32 channels)；測試頻率為125MHz；數據傳輸率為250 Mbps/500 Mbps/875 Mbps；I/O channels最多至512 channels，使用Viewpoint軟體；其目標包括LCD source/gate driver ICs、single-chip driver ICs、 TCON、MCUs和MPUs。
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愛德萬是世界著名的半導體自動測試設備供應商，SoC、 Memory、mixed signal devices和 LCD Driver 等IC測試機台及Handler，提供最先進的測試技術及完整解決方案。1954年在東京成立，致力於發展最尖端的半導體測試科技，並在歐美成立分公司。台灣分公司1989年成立，現為國內最大IC產品測試設備供應商，在北、中、南各設服務據點，提供迅捷的技術支援。

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　　半導體測試設備龍頭愛德萬測試於近日推出新的T5503記憶體測試系統，擁有業界最高的並行同測能力高達128 devices，提供超高產能的測試技術支援。

, x" G8 z1 h0 D" j2 }　　T5503是專門設計來解決下一代超高速的DDR3-SDRAM記憶體的測試挑戰，滿足DDR3-SDRAM需要的低成本測試解決方案。T5503機台已在日前日本東京國際論壇舉辦的「愛德萬測試2008年展覽會」中陳列。

　　愛德萬T5503擁有高達128的DDR3-SDRAM同時進行測試能力，是舊機型的兩倍產能，大幅降低測試成本。此外，最高測試速度為3.2Gbps ，數據傳輸速度超過1Gbps，是目前市場上速度最快的，不但是DDR3 -SDRAM理想的測試解決方案，更可支援GDDR3 and GDDR4高量產測試。

　　T5503所使用的半導體電路，充分利用最新的CMOS製程技術，達成更大的封裝密度，較前型號減少使用面積約40％，電力消耗也減少約 45％，同時節省空間及環保省電。