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[問題求助] 畫電阻時為何需要考慮邊緣與彎曲的地方?

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1#
發表於 2007-8-12 20:25:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
小妹又來了。4 p' m+ C, y' C, P2 C( N
這次我的問題是:! u$ V+ o0 R+ _- l! A
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?8 C6 a5 p9 N+ m' i
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖)
- E4 e4 R1 R, n! k' ^7 A# ~9 K
% c+ |) j9 t# E: q6 ~& g2 Q! {3.以non-silicided poly畫電阻對Body會產生較小的寄生電容(與silicided poly相較),why?
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2#
發表於 2007-8-12 23:22:49 | 只看該作者
1、一般1個contact的resistor是固定的,可參考foundary的資料,一般L=Lm+dL,W=Wm。
+ W6 r7 n5 ?" D3 R$ ~$ Y6 L8 e! w2、彎曲電阻的不確定性只要考慮current的流動(想像水的流動)你就知道了。6 c& `. k% W2 e0 T* W  ~
3、查capacitor的公式就知道了,C=eA/d,e表示介電常數(為2個級板),現在substrate是silicon,所以.以non-silicided poly  
- Z  {1 w; ^: I9 O! t2 ?) ~% g" I     畫電阻對Body會產生較小的寄生電容。

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆! 謝謝回答唷,對我很有幫助!

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3#
發表於 2007-8-14 10:25:16 | 只看該作者

作 TFT 的人之淺見

1. contact hole 的 edge 很容易因曝光而產生差異,曝光不足或過量,都會有形變而造成 contact面積上的變化。再者,edge 容易有爬坡問題,其所造成阻抗變動,較難估算(此為 TFT Thin Film Process 易遇到的 issue)。但就發問同學所提問內容,應是考慮 R=Rs*L/W 的式子,在 contact hole 處所代入的 W 及 L;但這有很多人作過相關研究了喔,查一下應該有數據或公式可以直接代的喔。2 B4 C/ v2 o  R3 r8 G% t
' z& u1 a! N  |' [( K
2.同上。轉角處的電阻,印象中的數據,以方格電阻計,為一正方格的 2/3 還是 3/5 ..... 忘記了.....4 r# T$ Z3 \! J; m( q
1 Y8 `$ Y7 [- t7 U$ D1 l7 N/ z
3.以下純屬猜測:是因為等阻值 Layout,non-silicided poly 佔用較小面積,而 silicided poly 需佔用較大面積嗎 ?

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆!TFT方面的回答對我也很有幫 ...

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4#
 樓主| 發表於 2007-8-16 16:59:16 | 只看該作者
小妹還有個問題% ^+ V# o) l0 p
1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
/ J1 Q) c7 k; ]6 V! E+ t8 C% c  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
5#
發表於 2007-8-16 23:09:18 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-16 04:59 PM 發表 7 W( t/ m7 R, j! }  D4 y
小妹還有個問題
/ f' W0 d$ W, @* |6 s1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的! ~  u% D% Q! \. u0 ~# x
  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
6 `! T; D3 T) _1 {1 T

0 D2 M+ j, [/ s' B/ K9 E# v& a
7 d( f* f0 i, ^  E' `! n* n: q9 x須注意相關current density的問題......................
6#
發表於 2007-8-17 10:30:07 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表 + J: G6 w7 D% ^; P. _
小妹又來了。
: A0 s- k& n: C" w  M這次我的問題是:
1 f# @. ~% T$ j! [1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?
' B1 V; R! W# M2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ...
7 l# J2 O! S: f* K/ J/ L, p

/ h/ B& j9 p+ M3 }Q1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻
% C) c9 I+ y( ]     但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則8 q! o& V6 \0 ~0 f7 W
     雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大% p& J/ o$ Y& {# z- i: t
     例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大5 N. F: B. r4 J7 d
     因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻
' e  m1 m- Y, ?) Q4 I1 p0 I9 B% {) F( W( G
Q2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~: V. e8 T% V* M# X
     依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,# J. f& }) h0 f2 T/ D$ @
     所以擴散的情況也會不同.: Y* J% M, E4 D/ Q0 {" c5 B% |& h
     若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起/ k, G6 o9 |2 g% P9 ?* _
     整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%)
( V& Y! r" n% H. R9 z" q     因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..
3 Y: }' N& Q& A6 l" A- }& u0 i4 g     分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻1 \3 h+ P2 Q- p3 p3 o) f
     這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同
$ @0 G: T& E+ Y! O1 k  j     但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況
8 q& i$ p( h2 W/ t8 w* D
2 q7 O, K( Z1 t     這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:
2 l1 r; Q9 j& ]; o     因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱5 |, p+ Y* n  V+ j! p7 r. V
     容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..
( V. d5 |# O& G( |, x. f% A     更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動
. _" V7 }/ S( T) z$ i3 o     
9 l4 j. d/ |+ T) h' ]     這兩個是轉角畫法較嚴重的問題
* s- y5 C' O) q# p
% }$ r. n+ C/ H6 {* S; E5 x8 ?
+ j1 o; t5 u6 @" H' {另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
' w) y7 D( z- `/ n7 w這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低4 m3 S- b: [/ F2 N& p* U3 E! i2 [
因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低
; E; |0 Z  U% k# w: g3 S* w換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低

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參與人數 2 +7 收起 理由
yhchang + 4 Good answer!
woo240 + 3 您的回答很詳盡,謝謝你了,以後有問題 ...

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7#
 樓主| 發表於 2007-8-20 22:30:16 | 只看該作者
6樓的樓主很謝謝你的回答2 [& M& J& ?1 Z5 x2 ?) G* |
不過又有了一個疑問
& M5 m: v2 G; [就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
0 k, ~2 n+ `( N' V: R& W( {$ m" P但是”小的電阻值會有較大的誤差值”, E( w9 _; ^/ A) g
這句”小的電阻值” 我可以把它解釋為以哪一層次來做電阻嗎?(well, diffusion, poly, metal)
" ^3 [+ y& e8 O; j5 f4 \是說以metal來畫電阻的話會比用poly來畫的誤差大嗎?  l# W7 W2 G- M1 o
如果是的話,那為何不用well做電阻呢?
8#
發表於 2007-8-22 09:46:14 | 只看該作者

回復 #7 woo240 的帖子

小的電阻值應該是指面積吧
8 }* [- ]& J% a6 ?& N面積很小(nwell, diffusion, poly, metal)都一樣誤差大(這是指絕對值)
+ Q5 X7 r2 B' ?$ p( }特別是用diffusion產生的電阻  ! a6 k5 x% q% n* i
你只要知道這材料怎麼做出來…就會了解為什誤差會~這麼大~3 x/ R8 a1 E' T7 l# e. D
但是相對於同一個 ic 裡的同一個材料的電阻' h" V7 _/ y" g- t
彼此的電阻比值誤差很小 ( 前提是有考慮好matching )
9#
發表於 2007-8-22 10:17:48 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-20 10:30 PM 發表
1 D. I7 ~6 b4 E1 Y8 r. ^6樓的樓主很謝謝你的回答
* D% E5 v' V  K不過又有了一個疑問
$ D: n9 z+ i5 h8 g" ]2 D- r  \# l就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一4 `- I* t% a+ v. t# ]" }* d
但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
8 w0 M7 K! J7 s0 {2 I這句”小的電阻值” 我可以把它解 ...

% o1 v- P5 g5 r6 I& V7 E' |! v& F, [( X& [3 o* w7 m, {
小的电阻值的理解是错误的  这句话应该理解为: 为了保证电阻值的精度范围,需要W/L 的值越大越好;另外,单个电阻是很以实现精确的电阻值的(金属电阻除外),你需要保证的只是电阻的比例而已,而这是可以通过matching 来实现的
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