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[問題求助] 畫電阻時為何需要考慮邊緣與彎曲的地方?

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1#
發表於 2007-8-12 20:25:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
小妹又來了。  E( X/ d' ^, d9 |
這次我的問題是:- A2 F/ }* }* ~$ r5 P# I
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?) S1 |3 A/ A/ X, J1 X' |" c5 q
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖)% {, }* \$ j6 x" C8 ^9 e  p
$ w5 p6 o( Y/ o# `- M
3.以non-silicided poly畫電阻對Body會產生較小的寄生電容(與silicided poly相較),why?
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2#
發表於 2007-8-12 23:22:49 | 只看該作者
1、一般1個contact的resistor是固定的,可參考foundary的資料,一般L=Lm+dL,W=Wm。
0 ?& a1 \+ s) b$ ^2、彎曲電阻的不確定性只要考慮current的流動(想像水的流動)你就知道了。
' Z1 T( O' ]) J8 C5 ?3、查capacitor的公式就知道了,C=eA/d,e表示介電常數(為2個級板),現在substrate是silicon,所以.以non-silicided poly  3 ^  }" C+ E; `1 o! x( v+ I
     畫電阻對Body會產生較小的寄生電容。

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woo240 + 2 熱心回覆! 謝謝回答唷,對我很有幫助!

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3#
發表於 2007-8-14 10:25:16 | 只看該作者

作 TFT 的人之淺見

1. contact hole 的 edge 很容易因曝光而產生差異,曝光不足或過量,都會有形變而造成 contact面積上的變化。再者,edge 容易有爬坡問題,其所造成阻抗變動,較難估算(此為 TFT Thin Film Process 易遇到的 issue)。但就發問同學所提問內容,應是考慮 R=Rs*L/W 的式子,在 contact hole 處所代入的 W 及 L;但這有很多人作過相關研究了喔,查一下應該有數據或公式可以直接代的喔。
1 ?' A+ ~. _- b' @! }# e7 `/ B% M% K) U  i* C8 H+ L/ |
2.同上。轉角處的電阻,印象中的數據,以方格電阻計,為一正方格的 2/3 還是 3/5 ..... 忘記了.....3 F1 ?; Q0 n- n

2 Y5 w: Z+ ~6 W9 ]7 j3.以下純屬猜測:是因為等阻值 Layout,non-silicided poly 佔用較小面積,而 silicided poly 需佔用較大面積嗎 ?

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woo240 + 2 熱心回覆!TFT方面的回答對我也很有幫 ...

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4#
 樓主| 發表於 2007-8-16 16:59:16 | 只看該作者
小妹還有個問題
9 I. M" g" M" U" x' v1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的7 f; o# z: R4 m$ v1 o: u, O
  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
5#
發表於 2007-8-16 23:09:18 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-16 04:59 PM 發表 3 ^% M& @9 [/ g
小妹還有個問題
) H" y) f$ N$ ^! W7 T* m9 i1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
6 e. @; [3 a( Q2 O7 x* y+ L2 M  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
9 T8 O$ ]0 X6 m- l7 }6 Y3 X

/ z% s# N9 |0 U1 O: _: s# z( L" }% i8 X, [  J6 X* x
須注意相關current density的問題......................
6#
發表於 2007-8-17 10:30:07 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表
) V# I2 `1 y0 Y6 _. B小妹又來了。
) ~- y; g6 i- h  j2 x0 _8 T- I這次我的問題是:
0 N2 @  _$ ?+ J1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?6 u; B. W" T8 O. T9 l2 ^1 S9 L
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ...
" ]% K1 P* E4 Z5 S& o

# J, m% i! j* X6 ?/ xQ1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻
  ]. N8 D! w* F     但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則
2 J5 h, R6 u5 N* C; h6 p     雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大$ ]7 p+ Q6 l+ [3 p
     例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大
' o' n; |3 k  t  _$ n/ N' A3 n     因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻
# ]3 g1 F$ ?! y
4 k( u0 _& }) H/ e' _% HQ2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~
* N0 W1 h9 D& P+ f' q  M     依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,
9 J) A/ l  x, D1 V- }! y     所以擴散的情況也會不同.
5 |! [( k% ~, b4 u) }& b2 Z     若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起. l$ [* I3 e  p* H2 r
     整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%)
4 G6 m4 ]( G! Z2 J3 {. j     因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..+ A; B- }: L6 p) Y
     分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻9 i: x/ m1 o- ]6 `
     這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同, z* e& A7 Y7 L/ ]+ [! e
     但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況
+ G! i$ a5 C5 W
3 G+ u6 R1 p! {' H. o% L/ {     這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:
. W% t+ K6 ^. U     因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱
; b  l0 i" G& d' x     容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..  j$ y+ e; X( [
     更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動
* m$ t* H$ Z9 o% J     0 j& [4 o( ~( B8 z$ j  a4 ]
     這兩個是轉角畫法較嚴重的問題
5 \) O: t% \6 j9 c  J4 @
7 {/ \' n# ^3 ~% ^6 Z. k7 ^6 P4 V2 R7 N+ r+ n  V
另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的5 _  p5 w1 G" W+ g' k" P* W
這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低
/ v, l8 C" @% N% [6 e. {因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低# A6 P) s! r) Q) Z5 I( I
換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低

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yhchang + 4 Good answer!
woo240 + 3 您的回答很詳盡,謝謝你了,以後有問題 ...

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7#
 樓主| 發表於 2007-8-20 22:30:16 | 只看該作者
6樓的樓主很謝謝你的回答! {& F9 [0 _7 w( |
不過又有了一個疑問
# L1 g, S$ f/ ~) r- s就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
' v) m% v. ?* J! `! F0 p" `但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
; w! G( E9 `% @2 Z9 X這句”小的電阻值” 我可以把它解釋為以哪一層次來做電阻嗎?(well, diffusion, poly, metal)1 l. a0 ^6 d) _7 M5 T
是說以metal來畫電阻的話會比用poly來畫的誤差大嗎?4 Y' m! l8 e( J; t6 L6 d
如果是的話,那為何不用well做電阻呢?
8#
發表於 2007-8-22 09:46:14 | 只看該作者

回復 #7 woo240 的帖子

小的電阻值應該是指面積吧  }! r7 Y# J5 u. {" @
面積很小(nwell, diffusion, poly, metal)都一樣誤差大(這是指絕對值)
1 d. N% N; [8 E; ]* ?* l; b特別是用diffusion產生的電阻  
5 R, a$ ^: j% {你只要知道這材料怎麼做出來…就會了解為什誤差會~這麼大~
, I" t+ v$ \% b& V2 O# I+ E但是相對於同一個 ic 裡的同一個材料的電阻
. D, m3 ~4 i6 e- M0 R2 g: H. E彼此的電阻比值誤差很小 ( 前提是有考慮好matching )
9#
發表於 2007-8-22 10:17:48 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-20 10:30 PM 發表
, X! {$ p! r% o2 s) H6 L6樓的樓主很謝謝你的回答: d# U2 v, H3 m% i  H
不過又有了一個疑問- y( u) I% A" ^; P+ u
就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一" S0 k5 Z  ~# E$ E& ^
但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
  z6 _  F+ w9 h/ v這句”小的電阻值” 我可以把它解 ...

! q; u" ]& P' h6 \7 l" p: `" `1 h" C7 O. d
小的电阻值的理解是错误的  这句话应该理解为: 为了保证电阻值的精度范围,需要W/L 的值越大越好;另外,单个电阻是很以实现精确的电阻值的(金属电阻除外),你需要保证的只是电阻的比例而已,而这是可以通过matching 来实现的
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